СЧ ОКР по теме: «Разработка и изготовление двух опытных образцов установок контроля привносимой дефектности поверхности полупроводниковых пластин без топологии с размером минимального обнаруживаемого дефекта 45 нм»,
шифр «КДПП-ПЛ»
Запрос предложений
№ ░░░░░░░
опубликован 14.09.2023 09:09 (мск)
перейти на ЭТП